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X-RAY XAN310熒光射線材料分析及鍍層測厚儀 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性價比的緊湊入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，用于快速、無損分析鍍層厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。

菲希爾XDLM-pcb200 來自德國菲希爾Fischer的XDLM-PCB測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測量儀器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅固耐用的入門級儀器。

德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。

DualScope MP0測厚儀- 菲希爾 DualScope MP0測厚儀，袖珍測厚儀中的產(chǎn)品，也是應(yīng)用Z廣泛，性價比較高的一款小型儀器，篤摯儀器為菲希爾正式授權(quán)的專業(yè)經(jīng)銷商，證書齊全，貨源穩(wěn)定，正規(guī)渠道拿貨

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。

菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。